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多點測力治具專利核准
新聞類別:最新消息    發布時間:2011-05-03 13:38:06    瀏覽次數:4297人次

本公司已於2011年申請多點測力治具新型專利已獲專利標準局核准,相較一般測力設備必須一點一點量測,此新型專利運用機構的巧妙設計,將多點的量測荷重元集中在一有限空間內,同時可以執行多點的量測,可以大幅縮短生產線上或品檢線上的作業時間。

該設備可以量測的點與點距離僅5.5mm,適用於鍵盤、觸控面板等需要密集量測的產品上,目前應用於黑莓機的鍵盤良率檢測上。

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